JW-DX 比表面积测定仪
JW-D系列
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司***仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。
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JW-D系列
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司***仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。